Máquina de medição de planeza GI20

para controlede alta precisão

O instrumento de medição de planeza GI20 da Logitech proporciona uma medição de planeza de alta precisão adequada para utilização com superfícies lapidadas e semi-polidas até 150mm (6″)Ø. Ao contrário dos interferómetros convencionais fizeau, o GI20 pode ser utilizado para medição de superfícies não reflectoras, tornando-o ideal para a realização de verificações em superfícies polidas e/ou polidas antes do polimento final. O interferograma é apresentado num ecrã na parte da frente da unidade. Um ecrã paralelo pode ser criado através da porta HDMI e as imagens também podem ser exportadas através da porta USB para análise externa. Todas as características do interferómetro são controladas através do painel do ecrã táctil. Interferometria de Incidência de Pastoreio Um interferómetro fizeau padrão irá, dependendo do comprimento de onda utilizado, funcionar normalmente com espaçamento de franjas de aproximadamente 0,3µm. Isto restringe frequentemente as medições de planicidade a materiais altamente reflectores que irão fornecer contraste suficiente no monitor. As distâncias curtas entre franjas resultantes impedem frequentemente a análise de imagens "ocupadas". Os interferómetros de incidências de pastagem da Logitech ultrapassam tais problemas através da reflexão da luz laser num ângulo de incidência de pastagem fora da superfície da amostra. Este feixe angular de luz assegura que o monitor mostra franjas tanto nas superfícies reflectoras como não reflectoras da amostra. Permite também uma grande abertura visível de 127mm x 150mm (5″ x 6″), permitindo que amostras até 150mm (6″)Ø sejam avaliadas com precisão. O ecrã 7″ permite a realização de medições rápidas e precisas "em processo", com espaçamento de franjas a um intervalo fixo de 2µm, produzindo excelentes níveis de contraste com acabamentos superficiais a partir de amostras polidas até 300nm Ra.