Difratômetro XRD Wafer XRD 300

de laboratório

O poder da automação da sua fábrica encontra a nossa tecnologia de difração de raios X de última geração. O Wafer XRD 300 é um módulo de metrologia ultrarrápido e de alta precisão para orientação de cristal e controle de geometria de wafer. Visão geral Conheça o Wafer XRD 300: seu módulo de difração de raios X de alta velocidade para produção de wafers de 300 mm fornecendo dados essenciais em uma variedade de parâmetros fundamentais, como orientação de cristal e caraterísticas geométricas, como encaixes, planos e muito mais, projetado para caber perfeitamente em sua linha de processo. Recursos e benefícios Precisão ultrarrápida com nossa tecnologia de leitura patenteada O método usado requer apenas uma leitura rotacional para reunir todos os dados necessários para determinar totalmente a orientação de cristal, o que proporciona alta precisão a um tempo de medição muito baixo, no intervalo de alguns segundos. Manuseio e classificação totalmente automatizados O Wafer XRD 300 foi projetado para maximizar seu rendimento e produtividade. A integração total na sua automação de manuseio e classificação faz com que seja uma adição poderosa e eficiente ao seu processo. Conectividade fácil A poderosa automação do Wafer XRD 300 se ajusta facilmente ao seu processo novo ou existente, pois é compatível com as interfaces MES e SECS/GEM. Alta precisão, visão mais profunda Entenda seus materiais como nunca antes com as principais medidas do Wafer XRD 300, incluindo: Orientação de cristal Posição do encaixe, profundidade e ângulo de abertura Diâmetro Posição e comprimento planos Outros sensores disponíveis mediante solicitação