Estação de ponta de prova criogênica CPS-XXX-CF-PLUS

semiautomática

Os Modelos CPS-XXX-CF-PLUS permitem testes rápidos e económicos de wafers e dispositivos a temperaturas criogénicas até 9K (sistema CCR simples), 4,5K (sistema CCR duplo) ou mesmo abaixo de 4K (sistema CCR triplo). Oferecemos sistemas para testar wafers de 100mm, 150mm, 200mm ou 300mm com capacidade opcional de bloqueio de carga. Os sistemas podem ser configurados com braços de sonda individuais (opcionalmente com sondas em cunha) ou com porta-cartões de sonda. É possível a sondagem de alta densidade com >100 de sondas DC. Tais sistemas são ideais para campos emergentes de computação quântica, bem como para campos estabelecidos de electrónica supercondutora. Características - Braços de sondas com ajuste manual externo do micromanipulador. - Múltiplas opções de CCR. - Configuração padrão inclui tubo de zoom 7:1X para uma resolução melhor que 4 μm. 12.lentes de zoom 5:1 e 16:1 também estão disponíveis. - Eficiente isolamento de vibrações das vibrações da bomba de vácuo. - Blindagem magnética opcional passível e/ou activa.