Estação de ponta de prova

MicroXact tem um historial de trabalho com clientes para desenvolver soluções de sondagem específicas para aplicações e altamente personalizadas para satisfazer necessidades em constante evolução, incluindo intervalos de temperatura alargados e integração de ópticas personalizadas. Dedicamo-nos a encontrar soluções que ajudam a baixar os seus custos de teste. Exemplos de tais soluções são fornecidos abaixo: Estação de Sonda de Wafer Personalizada - Sondagem sob Iluminação Externa Uma série de componentes optoelectrónicos (sensores IR, bolómetros, matrizes de plano focal, módulos fotovoltaicos, etc.) requerem iluminação externa e integração óptica personalizada durante a sondagem. Esta iluminação vai desde a iluminação do corpo negro até à iluminação do simulador solar e iluminação com luz laser pulsada, modulada ou de onda contínua. Outro conjunto de aplicações que requerem iluminação externa está relacionado com o corte ou aparagem a laser. MicroXact tem experiência na adaptação das suas sondas para este tipo de aplicações e tem sempre o prazer de trabalhar com os clientes para apresentar soluções cómodas e rentáveis para os requisitos das estações de sondagem personalizadas dos clientes. - Estações de Sonda de Faixa de Temperatura Alargada Um subconjunto importante de aplicações está relacionado com testes de dispositivos de THz à temperatura criogénica e testes de wafer. Para resolver estes problemas, MicroXact está a oferecer estações de sonda padrão de gama de temperatura alargada, bem como soluções altamente personalizadas com cargas térmicas invulgarmente elevadas, testes de frequência muito elevada (110GHz ou superior), bem como com massa térmica invulgarmente elevada dos artigos de teste.