Microscópio AFM Flex-Mount
industrialde alta resoluçãoautomático

Microscópio AFM - Flex-Mount - Nanosurf - industrial / de alta resolução / automático
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Características

Tipo
AFM
Aplicações técnicas
industrial
Outras características
de alta resolução, automático, motorizado

Descrição

O Flex-Mount é um AFM único que pode ser configurado para adquirir informações de alta resolução em amostras grandes, não planas e exigentes. A solução Flex-Mount combina a resolução e o desempenho superiores da cabeça de varrimento Nanosurf FlexAFM com a integrabilidade do Nanosurf NaniteAFM. O resultado é um AFM de varrimento de ponta que pode ser facilmente ligado a um dos grandes estágios de translação motorizados personalizados da Nanosurf e que é, assim, capaz de caraterizar a superfície de amostras com pesos e dimensões que praticamente nenhum outro sistema AFM consegue suportar. - Desempenho e fiabilidade comprovados em ambientes industriais - Desenho de varrimento da ponta para máxima flexibilidade - Capacidades de automatização - Concebido especificamente para integração - Mede amostras de qualquer peso e dimensão Cabeça de leitura de nível de investigação para integração O Flex-Mount é baseado no FlexAFM, a cabeça de digitalização de investigação mais utilizada da Nanosurf. O scanner de ponta baseado em flexão proporciona um varrimento plano e linear, alta resolução e funcionamento estável. Liberdade ilimitada com estágios personalizados Obtenha a solução AFM automatizada ideal, concebida para a sua aplicação, ou integre o Flex-Mount no seu sistema de plataformas existente. A Nanosurf é o fornecedor líder de soluções de integração e desenvolvimentos personalizados para clientes industriais com requisitos altamente específicos. Amostras grandes, não planas e curvas O Flex-Mount, em combinação com a plataforma correcta, fornecer-lhe-á medições precisas em amostras de qualquer tamanho. A inclinação da cabeça de leitura, aliada à liberdade de movimento em quaisquer eixos que necessite, permitir-lhe-á alcançar facilmente qualquer área de interesse da amostra, mesmo em amostras curvas.

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