Os sistemas de TC de microfoco adaptáveis da Nikon proporcionam uma inspeção de alta resolução de componentes, desde pequenos conectores de plástico a peças fundidas de alumínio, para I&D, análise de falhas e controlo de qualidade da produção.
Estes sistemas combinam a adaptabilidade necessária no laboratório com características únicas, como o alvo rotativo 2.0 de 225 kV, o modo de aquisição CT Half.Turn e o controlo automático do filamento para reduzir o tempo de ciclo e melhorar o tempo de funcionamento quando utilizados para a inspeção em série na fábrica.
Flexibilidade quando precisa dela
Com a escolha de fontes, alvos, estratégias de digitalização por TC e opções como o ajuste motorizado da distância fonte-detetor, os sistemas XT H são versáteis e acomodam uma vasta gama de tarefas de inspeção.
X.Tend Helical CT
Os objectos altos podem ser digitalizados num único processo de aquisição, eliminando os artefactos introduzidos pelo feixe cónico e a costura multi-scan. Isto também proporciona a vantagem adicional de digitalizar objectos com maior ampliação, resultando numa resolução significativamente mais elevada.
Alvo rotativo 2.0 exclusivo de 225 kV
Permite o funcionamento contínuo até 450 W com uma resolução até três vezes superior para a mesma potência, ou uma recolha de dados três vezes mais rápida para uma determinada resolução.
Reconstrução AI
A Reconstrução AI da Nikon revoluciona a digitalização de tomografia computorizada (CT) através do melhoramento automatizado de imagens alimentado por inteligência artificial (AI). Adaptado às necessidades de cada cliente, proporciona um novo nível de velocidade e qualidade para desbloquear uma deteção de defeitos superior, acelerando simultaneamente a produtividade.
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