HL de SURFTENS - testes profissionais da bolacha na tecnologia de semicondutor
O medidor SURFTENSHL do ângulo de contato é projetado para o uso na indústria e na pesquisa do semicondutor, em particular para controle de processos do revestimento da bolacha e no processo fotolitográfico.
É caracterizado pelas seguintes características:
medida rápida e fácil do ângulo de contato,
construção da espaço-economia
construção especial da tabela para o traço rápido da distribuição do ângulo de contato na bolacha
software com operação intuitiva
documentação confortável dos resultados de medição nos protocolos e nas imagens vídeo,
se for necessário computação da energia de superfície livre pela teoria de Wu/TRABALHO
uso opcional com portátil ou PC
HL de SURFTENS - aplicações
A alteração do comportamento molhando de bolachas de silicone é uma etapa padrão do processo na tecnologia de semicondutor. Para a caracterização do processo, ajuste de parâmetros tecnologicos e de controle de produção. É consequentemente absolutamente necessário, medir objetivamente e exatamente o ângulo de contato e a energia livre de superfície antes e depois do processo da alteração.
Com esta finalidade um instrumento de medição robusto e fácil de usar do ângulo de contato é necessário. SURFTENSHL foi desenvolvido para encontrar as necessidades na tecnologia de semicondutor e a pesquisa a operação é simples e para todos possível após um treinamento curto. A operação manual assegura um preço atrativo.
SURFTENSHL é usado assim assim como em controle de processos padrão assim como na investigação e desenvolvimento.
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