O Software Discover® Review é uma solução de classificação intuitiva que guia rapidamente os utilizadores através das sequências de classificação e correlação de defeitos.
Visão Geral do Produto
O Software Discover® Review melhora a produtividade do sistema ao permitir aos seus utilizadores reverem os resultados offline. Examina os resultados de defeitos de qualquer ferramenta de inspecção ligada ao servidor Discover®. A utilização de múltiplos clientes aumenta a produtividade ao suportar revisões simultâneas com protecção por sobreposição, enquanto o estado de revisão parcial permite mudanças de turno do operador. Visualizar os defeitos individual ou colectivamente utilizando um visualizador de mapas de wafer interactivo, de toda a superfície (frente, borda, verso). O seu modo de revisão de galeria permite aos utilizadores seleccionar imagens individuais ou múltiplas por wafer ou molde para uma classificação rápida e comparação de defeitos. O Discover Review Software inclui também um grande número de exportações de mapas de wafer e relatórios personalizáveis.
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