Com a sua tecnologia única de desenho óptico, o sistema Imperia detecta e classifica os defeitos de eliminação do campo com o benefício adicional de monitorização simultânea da produção de fotoluminescência (PL) de última geração
Visão Geral do Produto
Com tecnologia de desenho óptico única, o sistema Imperia detecta e classifica os defeitos de eliminação do campo com o benefício adicional de monitorização simultânea da produção de fotoluminescência (PL) de última geração. A combinação destas duas funções de rastreio metrológico pós-epitaxial num único sistema de alto rendimento minimiza o valioso uso de espaço fabril e o tempo de manipulação de cassetes. Este produto pode proporcionar poupanças económicas significativas ao utilizador (por exemplo: previsão precisa do rendimento do reactor MOCVD e horários de PM)
- Mapeamento PL espectral de alta densidade
- Análise e classificação de defeitos
- Espessura da camada epitaxial e imagem normalizada da reflectividade em alta resolução
- Perfilagem de forma de bolacha e reconstrução de arco 3D
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