Sistema de inspeção por fotoluminescência Imperia®
óptico3Dautomático

sistema de inspeção por fotoluminescência
sistema de inspeção por fotoluminescência
Guardar nos favoritos
Comparar
 

Características

Tecnologia
óptico, 3D, por fotoluminescência
Modo de funcionamento
automático
Tipo
para detecção de defeitos
Aplicações previstas
para wafers
Outras características
controlado por computador

Descrição

Com a sua tecnologia única de desenho óptico, o sistema Imperia detecta e classifica os defeitos de eliminação do campo com o benefício adicional de monitorização simultânea da produção de fotoluminescência (PL) de última geração Visão Geral do Produto Com tecnologia de desenho óptico única, o sistema Imperia detecta e classifica os defeitos de eliminação do campo com o benefício adicional de monitorização simultânea da produção de fotoluminescência (PL) de última geração. A combinação destas duas funções de rastreio metrológico pós-epitaxial num único sistema de alto rendimento minimiza o valioso uso de espaço fabril e o tempo de manipulação de cassetes. Este produto pode proporcionar poupanças económicas significativas ao utilizador (por exemplo: previsão precisa do rendimento do reactor MOCVD e horários de PM) - Mapeamento PL espectral de alta densidade - Análise e classificação de defeitos - Espessura da camada epitaxial e imagem normalizada da reflectividade em alta resolução - Perfilagem de forma de bolacha e reconstrução de arco 3D

---

Catálogos

Não estão disponíveis catálogos para este produto.

Ver todos os catálogos da Onto Innovation Inc.
* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.