Medidor de espessura estacionário ECV Pro™

de filme plásticosem contatocom calibração automática

O sistema ECV Pro foi projetado, desde o início, para eliminar todas as variações dependentes do operador nos dados. Visão Geral do Produto O sistema ECV Pro é o padrão da indústria para a medição de perfis de concentração de portadores ativos em camadas semicondutoras. A eletrônica digital recém-projetada do sistema elimina a deriva e melhora significativamente a relação sinal/ruído. O design único do sistema ECV Pro elimina todas as variações dependentes do operador nos dados. Apresentando a primeira câmera in-situ, ECVision, que permite ao usuário imaginar interfaces semicondutor/eletrólito. Também proporciona uma nova visão da remoção de filmes ou revelação de defeitos durante o processo de gravação. O software do sistema ECV Pro é construído com base nas diretrizes do padrão industrial SEMI E-95. Este software suporta a criação automática de perfis e está programado para gerar gráficos de controle de processo.