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Sistema de metrologia para wafers QS2200™para semicondutores
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Características
- Tipo
- para wafers, para semicondutores
Descrição
Análise não destrutiva de bolachas
Visão Geral do Produto
O sistema QS2200 é uma ferramenta de metrologia FTIR especificamente projetada para análise não destrutiva de wafer. É utilizado para a caracterização e medição de materiais semicondutores, bem como para a fabricação de dispositivos.
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