Sistema de inspeção para superfícies de vidro GIS 640 R
FPAautomáticode qualidade

sistema de inspeção para superfícies de vidro
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Características

Tecnologia
FPA
Modo de funcionamento
automático
Tipo
de qualidade, para superfícies de vidro
Aplicações
para a indústria do vidro

Descrição

Com o novo sistema de inspeção do vidro, as diferenças de temperatura durante os processos de endurecimento do vidro podem ser rapidamente detectadas, evitando assim rejeições e proporcionando uma monitorização automática da qualidade. O sistema Top Down GIS 640 R, com referência de temperatura por meio de um sensor de baixo para cima, bem como correção automática de emissividade para vidros standard e low-E, foi especialmente desenvolvido para o controlo de processos em máquinas de têmpera de vidro. Especificações importantes - O sistema de proteção da lente controlado digitalmente (DCLP) evita purga de ar adicional - Cálculo da área de vidro - Sistema pré-montado para fácil instalação em fornos de têmpera de vidro - Ajuste automático da linha de varrimento - insensível a distorções - PI 640i imager com 60° ou 90° FOV - Interface de processo industrial - Sensor de referência CT G5L com interface USB e certificado de calibração - Sistema de obturador DCLP com suportes de montagem para gerador de imagens e sensor de referência - Servidor USB Gigabit - Armário de controlo - Conjunto de cabos - Caixa de controlo remoto - Pacote de software - Fonte de alimentação 100-230 V AC/ 24 V DC para o arranque inicial Especificações técnicas do optris PI 640i - Detetor: FPA, não arrefecido (17 µm x 17 µm) - Resolução ótica: 640×480 píxeis - Gama espetral: 8 - 14 µm - Gamas de temperatura: -20 °C...100 °C 0 °C...250 °C 150 °C...900 °C - Gama adicional: 200 °C...1500 °C (opção) - Taxa de fotogramas: 32 Hz - Ótica: 60° x 45° FOV / f = 10,5 mm ou 90° x 64° FOV / f = 7,7 mm - Sensibilidade térmica (NETD): 40 mK - Precisão do sistema (à temperatura ambiente de 23 ± 5°C): ±2 °C ou ±2 % - Derivação ambiental: ± 0,05 %/K 1) - Interface para PC: USB 2.0 - Interface de processo (PIF):

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