Câmera para wafers

de visão industrialde infravermelhoInGaAs

As câmeras SWIR de infravermelho de onda curta InGaAs oferecem resolução 640x512 com resposta de até 1,7 µm. A câmera SWIR de alta resolução pode ser usada para uma grande variedade de aplicações, incluindo perfil de feixe laser, inspeção de semicondutores, imagens hiperespectrais, controle de processo on-line, imagens de baixo nível de luz e triagem de células solares. Para o rastreio de células solares, os defeitos na fase de processamento inicial podem ser visualizados através do silício a granel, graças à sua transparência em comprimentos de onda superiores a 1,1 µm. Rachaduras, áreas mortas ou de resposta fraca são reveladas em wafers fatiados, permitindo a classificação automática / seleção das melhores peças. A câmera finalmente captura emissões de eletroluminescência (EL) e fotoluminescência (PL) de células fotovoltaicas individuais que são diretamente proporcionais à sua eficiência As câmeras SWIR de alta resolução da Photonic Science podem ser fornecidas com óticas SWIR de última geração, que proporcionarão resolução superior / modulação de contraste e menor distorção do que as óticas NIR convencionais que são usadas com câmeras CCD convencionais Principais Características - Digitalização de 14 bits / Processamento de imagem de 16 bits - Leia o ruído - até tipicamente 200 fps - Com Região de Interesse ROI - Excelente linearidade - Resposta a diferentes intensidades e/ou exposições - Interface Gigabit Ethernet e Camera Link - Opção de software - Kit SDK, Labview VI's