Sistema de escaneamento a laser VS-SECM

eletroquímico

O SECM integra um sistema de posicionamento, um bipotentiostat, e uma ponta de prova ou uma ponta do ultramicroelectrode. O sistema de posicionamento move a ponta de prova perto da superfície da amostra, dentro da zona local da imagem latente. O bipotentiostat pode polarizar a ponta de prova somente (modo do feedback) ou a amostra e a ponta de prova independentemente (modo do gerador-coletor), ao medir as correntes resultantes. A ponta de prova é projetada especialmente ter um polimento afilado específico (pela relação de RG) e o raio ativo abaixo de 100 mícrons. O sistema de posicionamento faz a varredura da ponta de prova e da posição das cartas com os parâmetros eletroquímicos medidos, criando um mapa de dados da corrente local. A aproximação curva-se (modo do feedback) é usada como os meios eletroquímicos por que para posicionar suficientemente a ponta de prova em Z perto da amostra para estar na zona local da imagem latente. Uma tensão de C.C. está aplicada à ponta de prova, quando a resposta atual da C.C. for traçada enquanto a ponta de prova está incrementada para a amostra. Quando a ponta de prova for suficientemente perto da amostra (uma distância de 2-4 vezes que do diâmetro da ponta de prova) a corrente medida nas transições da ponta de uma resposta maioria a uma resposta local. Sobre uma região de condutibilidade alta, uma resposta de Nernstian fornece uma corrente local aumentada sobre aquela da corrente maioria. Contudo, atual local está diminuído relativo ao valor maioria sobre áreas da baixa condutibilidade da amostra enquanto o massa-transporte é impedido à ponta de prova.