Microscópio para análises SAM 400
para pesquisade alta velocidadeacústico de varredura

Microscópio para análises - SAM 400 - PVA TePla Analytical Systems GmbH - para pesquisa / de alta velocidade / acústico de varredura
Microscópio para análises - SAM 400 - PVA TePla Analytical Systems GmbH - para pesquisa / de alta velocidade / acústico de varredura
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Características

Aplicações técnicas
para análises, para pesquisa
Outras características
de alta velocidade, acústico de varredura, para semicondutor

Descrição

A SAM 400 é uma ferramenta de alto desempenho que permite investigações acústicas não destrutivas para análises dedicadas de alto rendimento, controle de qualidade e aplicações de pesquisa. Possui um novo estágio livre de manutenção de alta velocidade e novas tecnologias de rf e transdutor de até 400 MHz, controladas através de uma interface gráfica de fácil utilização. Construída de acordo com os padrões da indústria de semicondutores em torno de uma plataforma central que utiliza a mais recente tecnologia de produção e pesquisa, a SAM 400 pode manusear com precisão wafers de até 300 mm e amostras de até 660x860x60 mm (w/l/h). As freqüências de ultrassom variam até 500 MHz com transdutores de 10 MHz a 400 MHz. Diferentes tamanhos de tanques e bandejas estão disponíveis. Alcance de detecção: x=250 µm-430 mm, y=250 µm-430 mm, z=100mm

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.