Objetiva de microscópio micro 20X
para medição de corpara medição de luminânciade alta resolução

Objetiva de microscópio micro - 20X - Radiant Vision Systems - para medição de cor / para medição de luminância / de alta resolução
Objetiva de microscópio micro - 20X - Radiant Vision Systems - para medição de cor / para medição de luminância / de alta resolução
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Características

Tipo
micro
Aplicações técnicas
para medição de luminância, para medição de cor
Outras características
de alta resolução
Distância focal

30,5 mm
(1,2 in)

Descrição

A Lente de Microscópio 20X da Radiant Vision Systems permite a obtenção de imagens de alta resolução de componentes e caraterísticas extremamente pequenas, como pixels e subpixels individuais de OLED, microLED, microOLED e outros ecrãs emissivos. A lente proporciona uma ampliação de 20X, aplicando um maior número de píxeis do sensor de imagem por píxel do ecrã ou caraterística do componente para medição de detalhes finos. A lente é montada diretamente num colorímetro ou fotómetro de imagem ProMetric® e inclui o software ProMetric ou TrueTest™ para uma configuração intuitiva do sistema e sequências de medição automatizadas configuráveis. Os padrões de subpixel podem ser difíceis de caraterizar sem um sistema de resolução muito elevada e uma ótica capaz de efetuar medições microscópicas. A lente de microscópio 20X amplia as imagens por um fator de 20, permitindo que os fabricantes de design garantam uma disposição precisa dos subpixéis, formas e padrões de cor RGB. Tal como se mostra nesta imagem, a lente de microscópio 20X consegue obter detalhes extremos numa área espacial muito pequena para obter uma imagem adequada de elementos individuais com uma quantidade substancial de separação entre regiões de luz. A lente de microscópio 20X pode ser utilizada com um fotómetro de imagem ProMetric da série Y para medição apenas da luminância ou com um colorímetro de imagem ProMetric da série I para medição de valores de luminância e cromaticidade. São também suportadas extensas funções de análise e visualização de dados, incluindo gráficos isométricos, gráficos de secções transversais, gráficos de radar e mapas de bits.

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