Microscópio Raman SPM/AFM

para análisesconfocalnanoscópio

Você pode combinar a potência do inVia com microscópios de sonda de varredura (SPMs e AFMs) para investigar a composição, estrutura e propriedades de materiais em escalas nanométricas. Escolha o melhor sistema A inVia é incrivelmente flexível; a Renishaw pode acoplá-la diretamente a uma ampla gama de AFMs e SPMs de fornecedores como: Superfícies Bruker Nano Nanônica NT-MDT JPK Parque Nanosurf Escolha o melhor SPM/AFM para as suas necessidades. TERS: dispersão da Raman com dicas melhoradas Os sistemas inVia-AFM selecionados podem realizar o espalhamento Raman melhorado da ponta (TERS). Esta técnica empolgante utiliza uma ponta plasmônica afiada para obter informações químicas na escala nanométrica. O mapeamento TERS complementa StreamLine™ e StreamHR™, dando-lhe a flexibilidade para estudar as suas amostras com a resolução que desejar. Máxima eficiência O braço de acoplamento flexível especialmente projetado pela Renishaw pode ser usado para integrar opticamente inVia a SPM/AFMs. Ele utiliza espelhos para direcionar a luz, proporcionando uma eficiência maior do que o acoplamento por fibra óptica. Você pode obter seus espectros mais rapidamente, e com maior sinal-para-ruído. O alinhamento é fácil. Todos os sistemas combinados oferecem um vídeo embutido com iluminação de luz branca para que você possa ver claramente tanto a ponta da sonda como o ponto de laser Raman - crítico para o trabalho conjunto da TERS. Mesmo local, mesmo tempo Você pode ter confiança nos seus dados. Você pode adquirir simultaneamente dados Raman e AFM do mesmo ponto da amostra sem ter que movê-los. Isto assegura que os seus dados sejam consistentes, mesmo que a sua amostra esteja a mudar com o tempo. Um sistema combinado A análise é co-localizada; não é necessário mover a amostra entre sistemas e depois caçar laboriosamente para encontrar o mesmo ponto de interesse.