Espectrômetro de fluorescência NEX DE VS

EDXRFde processopara inspeção

NEX DE VS Um analisador elementar EDXRF de bancada pequena (varaible) de alto desempenho, o novo Rigaku NEX DE VS oferece ampla cobertura elementar com um software QuantEZ baseado em Windows® fácil de aprender. Análise de pontos pequenos, de sódio (Na) a urânio (U), de quase qualquer matriz - de sólidos, filmes finos e ligas a pós, líquidos e lamas. Análise elementar XRF em campo, planta ou laboratório Especialmente projetado e projetado para uso industrial pesado, seja no chão de fábrica ou em ambientes de campo remotos, a potência analítica superior, flexibilidade e facilidade de uso do NEX DE aumenta seu amplo apelo para uma gama cada vez maior de aplicações, incluindo exploração, pesquisa, inspeção RoHS em massa e educação, bem como aplicações industriais e de monitoramento de produção. Quer a necessidade seja o controlo de qualidade básico (QC) ou as suas variantes mais sofisticadas - como o controlo de qualidade analítico (AQC), a garantia de qualidade (QA) ou o controlo estatístico de processos como o Six Sigma - o NEX DE é a escolha fiável de alto desempenho para a análise elementar de rotina por XRF. XRF com tubo de raios X de 60kV e detector de SDD O tubo de raios X de 60kV e o Detector de Deriva de Silício FAST SDD® resfriado por Peltier proporcionam excepcional repetibilidade a curto prazo e reprodutibilidade a longo prazo com excelente resolução de pico do elemento. Esta capacidade de alta tensão (60 kV), juntamente com a corrente de alta emissão e múltiplos filtros tubulares de raios X automatizados, fornece uma ampla gama de aplicações de XRF, versatilidade e baixos limites de detecção (LOD).