Ideal para Medições de Reflexão
Detecção de grande alcance de 250 a 2400 nm
Diferentes Reflectividades para Medidas Difusas
Sílica Fundida para Medidas Especulares
As medidas de reflectância relativa calculam a quantidade proporcional de luz reflectida de uma amostra contra a quantidade de luz reflectida de um padrão, que se assume ter uma reflectância de 100 %. Para medições de reflectância difusa, a Sarspec oferece um conjunto de padrões feitos de politetrafluoroetileno óptico (PTFE) com 98%, 50% e 10% de reflectividade de 250 a 2500 nm.
Estes padrões são hidrofóbicos e quimicamente inertes, portanto, podem ser limpos. Além disso, estes padrões também oferecem uma estabilidade a longo prazo, mesmo em medições UV. Para medições de reflectância especular, a Sarspec oferece um substrato de sílica fundida revestido com Al-MgF2 para alta reflectividade especular de 250 a 2500 nm.
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