25 K 1500 K
True pA STM
Espectroscopia dI/dV melhorada
Deflexão do feixe AFM
Sensor QPlus AFM
Evaporação in-situ
O Omicron VT SPM é um microscópio bem estabelecido em muitos laboratórios de pesquisa para microscopia de sonda de varredura. Ele ganhou o prêmio de destaque em P&D em 1996. Até à data, mais de 500 instrumentos foram entregues e instalados com sucesso em todo o mundo. O volume de resultados de pesquisas e publicações é uma prova conclusiva do desempenho, qualidade e versatilidade do projeto do SPM de Temperatura Variável.
O SPM de temperatura variável utiliza a mais recente tecnologia de pré-amplificador para microscopia e espectroscopia de túnel de varredura sub-pA verdadeira. A operação estável de baixa corrente é importante para a investigação de superfícies sensíveis ou com baixa condutividade. Para a espectroscopia de modulação, uma compensação eletrônica reduz a influência de correntes parasitárias. Isso economiza tempo de aquisição e melhora os resultados.
A Tecnologia AFM da Temperatura Variável SPM é baseada em mais de 20 anos de experiência em Microscopia de Força Atômica em UHV. Tem sido continuamente desenvolvido e melhorado. O clássico Beam Deflection AFM para AFM de contato e sem contato oferece a flexibilidade para muitos modos operacionais e diferentes tipos de cantilever. Por exemplo, AFM de alta resolução, Microscopia de Força de Atrito, Microscopia de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Sonda de Kelvin (SKPM) e Microscopia de Força Magnética (MFM) estão disponíveis.
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