Sistema de vácuo ultra-alto (UHV) para microscópio de varredura por sonda (SPM) MULTIPROBE S

Sistema de vácuo ultra-alto (UHV) para microscópio de varredura por sonda (SPM) - MULTIPROBE S - Scienta Omicron
Sistema de vácuo ultra-alto (UHV) para microscópio de varredura por sonda (SPM) - MULTIPROBE S - Scienta Omicron
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Características

Aplicações
para microscópio de varredura por sonda (SPM)

Descrição

O MULTIPROBE S dá forma à base da escala de MULTIPROBE e é a fundação para as variações maiores do RM de MULTIPROBE P e de MULTIPROBE. O MULTIPROBE S é um único sistema da ciência UHV da superfície da câmara com grande câmara da análise da multi-técnica para a microscopia da ponta de prova da espectroscopia de elétron, da exploração de UHV e a preparação da amostra. Um sistema de transferência da amostra facilita transferência da amostra entre SPM, câmara da análise, e o fechamento rápido da carga da amostra da entrada (FEL).

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Catálogos

FOCUS PEEM
FOCUS PEEM
16 Páginas
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