Sistema de vácuo ultra-alto (UHV) para microscópio de varredura por sonda (SPM) MULTIPROBE P,XP,XA,RM

As variações dedicadas P, XP e RM da preparação da amostra padrão são costuradas para caber facilmente o sistema de MULTIPROBE S, mesmo para um melhoramento mais atrasado. O sistema de MULTIPROBE LTS pode ser promovido com a variação de XP ou de XA a qualquer hora. A solução poderosa do XA é uma combinação de uma análise e de uma câmara da preparação. O MULTIPROBE P é um sistema da ciência UHV da superfície da duplo-câmara com uma grande câmara da análise da multi-técnica para a microscopia da ponta de prova da espectroscopia de elétron e da exploração de UHV, e uma câmara separada da preparação da amostra com FEL. As câmaras da preparação no MULTIPROBE P oferecem facilidades de preparação da amostra padrão como o crescimento de película fina ou amostra que sputtering e que aquece-se. O MULTIPROBE XP é um sistema da ciência UHV da superfície da duplo-câmara com uma grande câmara da análise da multi-técnica para a microscopia da ponta de prova da espectroscopia de elétron e da exploração de UHV, e uma câmara separada da preparação da amostra com FEL. A câmara da preparação no MULTIPROBE XP oferece preparação prolongada da amostra que inclui a amostra que sputtering, aquecendo-se e crescimento de película fina com caracterização in situ por LEED ou por RHEED no MULTIPROBE XP. O RM de MULTIPROBE é um sistema duplo da ciência UHV da superfície da câmara com uma grande câmara da análise da multi-técnica para a microscopia da ponta de prova da espectroscopia e da exploração de elétron, e uma câmara separada do MBE com a saia LN2 refrigerando serida idealmente para o MBE da pesquisa e a caracterização in situ do crescimento de película fina com RHEED