Espectrômetro de fotoelétrons excitados por raios X

de laboratóriopara pesquisa e desenvolvimentoMCP

Resolução XPS Ultimate Imaging: 500 nm / 100 nm (Lab / Synchroton) Navegação fácil de amostras através da tecnologia PEEM Espectroscopia de ponto pequeno Filtro de Energia Corrigida de Aberração Fonte de Raios X Monocromática de Alta Potência ARUPS com aceitação angular máxima Criado em cooperação com a FOCUS GmbH A NanoESCA oferece mapeamento de estado químico com resolução lateral XPS insuperável (<500 nm alcançada em condições laboratoriais). O instrumento permite a análise de estruturas de amostra menores, fornecendo informações de estado químico além dos limites de outras técnicas de alta resolução lateral, como a varredura da broca e do TOF SIMS A navegação das amostras em tempo real é assegurada pela técnica PEEM, que funciona em regime de electrões secundários. O modo PEEM permite encontrar facilmente pequenas características em uma grande área de amostra e fornece alta resolução (< 50 nm de resolução). Além disso, o modo PEEM fornece informações quantitativas sobre a função de trabalho muito local e carregamento de amostras locais. As capacidades de espectroscopia da NanoESCA podem ser completadas pela opção ARUPS, que permite analisar o espaço k a partir de áreas m, por exemplo, pequenos grãos em uma superfície policristalina com aceitação angular definitiva. Pela sua concepção revolucionária, a NanoESCA recebeu o prémio R&D 100 de 2007.