Microscópio eletrônico FOCUS PEEM

de laboratóriomodularem tempo real

Microscopia sensível à superfície 20 nm Resolução lateral Espectroscopia Local k-Espaço de imagem Fácil de operar Compatível com sistemas MULTIPROBE UHV Um produto FOCUS A Microscopia Eletrônica de Fotoemissão (PEEM) é uma técnica de imagem extremamente poderosa, cuja versatilidade para imagens de contraste topográfico, químico e magnético em alta resolução tem sido demonstrada em muitas aplicações laboratoriais e sincrotrônicas. Contribuições importantes para a caracterização de dispositivos magnéticos, pesquisa Plasmon, química de superfície e análise química de alta resolução lateral em combinação com radiação síncrotron, investigação de processos resolvidos no tempo e imagens do espaço k são apenas alguns exemplos de pesquisa ativa baseada em PEEM. Ao contrário de um Microscópio Eletrônico de Varredura (SEM), o PEEM imagina diretamente áreas de superfície que emitem fotoeletrônicos em tempo real, sem varredura A emissão de electrões a partir de superfícies pode ser causada de várias formas - por excitação por irradiação de fotões, termicamente, por bombardeamento de electrões/iões ou por emissão de campo. Ao longo dos anos a FOCUS-PEEM tem sido continuamente melhorada em termos de desempenho e usabilidade. O PEEM, juntamente com o estágio de amostragem integrado dedicado de alta estabilidade (IS) e vários filtros de energia disponíveis, seguem um conceito modular fácil de atualizar. Além disso, a operação assistida por software garante uma operação PEEM eficiente e segura mesmo em amostras desafiadoras. Com mais de 50 unidades no mercado, o FOCUS IS-PEEM é uma poderosa ferramenta de análise de superfícies.