Testador de funcionamento Compact MULTI series

para cartão eletrônicocompactoanalógico

Esta configuração é recomendada para testes pré-funcionais, funcionais e combinatórios. A versatilidade e escalabilidade do sistema de teste Compact MULTI é perfeitamente adequada para a integração de instrumentação externa, capacidades e técnicas em um único programa de teste. É particularmente adequado para a implementação de bancadas de teste funcionais para equipamentos e placas eletrônicas. A redução do footprint e a conformidade com os critérios do WCM, permitem a utilização de múltiplos gabinetes à parte, dando assim a oportunidade de implementar bancos de ensaio muito complexos para os diferentes sectores da electrónica. Compact Multi é particularmente adequado para: teste funcional do quadro Equipamento Ensaio EOL Programação a bordo ict/fun teste combinacional teste final automatizado implementação da sequência automatizada de testes Funcionalidades Bus analógico e matriz (S64N, S64A, S64F) Barramento de força e matriz (módulo HRELE) Placas de barramento digital e de canais híbridos (P32) Até 12 fontes de alimentação DC (APx, ALx) Instrumentos proprietários integrados no módulo ACL Integração de instrumentos de prateleira Programador de bordo universal (até 8 em paralelo) Gestão de protocolos de comunicação (Serial, USB, CAN, LIN, K-line, GPIB, ...) Sequência de teste funcional com Sistema Operacional NI (Labview/Teststand) ict e/ou sequência de teste funcional com sistema operacional VIVA da SEICA Auto-teste ao nível do módulo Receptor com ou sem contrastes superiores Interface do conector ODU Gestão de leitura de códigos de barras e códigos 2D Coleta automática de dados estatísticos