O S wide é um sistema dedicado a medir rapidamente grandes áreas de amostra até 300 x 300 mm. Oferece todas as vantagens de um microscópio digital integrado em um instrumento de medição de alta resolução. Extremamente fácil de usar com a aquisição de um único botão.
Sistema de Metrologia Óptica 3D de Grande Área
- Fabricação avançada
- Arqueologia e Paleontologia
- Electrónica de consumo
- Dispositivos médicos
- Moldagem
- Óptica
- Indústria relojoeira
Repetibilidade em altura sub-micron em toda a área estendida
Medição da altura de um tiro até 40 mm sem varredura Z
Lentes bi-telecêntricas com distorção de campo muito baixa, proporcionando uma metrologia precisa
Desvio de forma dos modelos CAD 3D
fornecendo a medição da diferença geométrica e da tolerância
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