Analisador de nitrogênio DF-750

de oxigêniode hidrogêniode monitoramento

O DF-750 é a escolha líder na análise de humidade para a indústria de semicondutores O DF-750 é um analisador de humidade de traço/ultra-traço optimizado para medições em gases de pureza ultra-alta (UHP) utilizados em fábricas de semicondutores de 300 mm. Medições de traço/ultra-traço TDL de alta estabilidade Uma solução sem compromissos Manutenção simples e custos contínuos reduzidos Concebido especificamente para efetuar medições de humidade de traço e ultra-traço numa gama de gases UHP, o DF-750 está optimizado para fábricas de semicondutores de 300 mm. Mede a humidade como contaminante nos gases de grau eletrónico nitrogénio, hidrogénio, hélio, árgon e oxigénio. A tecnologia de deteção de Laser de Diodo Sintonizável (TDL) oferece um Limite Inferior de Deteção (LDL) de 100 partes por trilhão (ppt), líder no setor, garantindo que as medições estáveis e altamente precisas do DF-750 atendam às necessidades de monitoramento preciso da produção de semicondutores. O robusto DF-750 tem baixos requisitos de manutenção ao longo da vida útil e oferece estabilidade de desvio zero, aumentando consideravelmente os intervalos de calibração. Este baixo custo de propriedade combinado com um desempenho de medição excecional significa que o DF-750 é a solução analítica de primeira escolha para verificações de qualidade de gás UHP. Medições de traço/ultra-traço TDL de elevada estabilidade O DF-750 foi concebido para cumprir as normas de pureza de gás excepcionais exigidas pelos fabricantes de semicondutores em todo o mundo. Utilizando tecnologia de deteção TDL de ponta, alojada numa célula Herriot robusta e resistente, o DF-750 evita o contacto da humidade com os componentes de deteção ótica. O resultado é um analisador que fornece uma medição ultrassensível de