Interferômetro a laser SP 5000 DI
para aplicações OEMpara medição de deslocamento subnanométricopara medição de comprimento

Interferômetro a laser - SP 5000 DI - SIOS Meßtechnik GmbH - para aplicações OEM / para medição de deslocamento subnanométrico / para medição de comprimento
Interferômetro a laser - SP 5000 DI - SIOS Meßtechnik GmbH - para aplicações OEM / para medição de deslocamento subnanométrico / para medição de comprimento
Interferômetro a laser - SP 5000 DI - SIOS Meßtechnik GmbH - para aplicações OEM / para medição de deslocamento subnanométrico / para medição de comprimento - imagem - 2
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Características

Aplicações
para medição de comprimento, para aplicações OEM, para medição de deslocamento subnanométrico
Especificações
a laser, óptico, de alta resolução, de alta precisão, diferencial, de duplo feixe

Descrição

Interferómetro laser diferencial altamente estável com dois feixes de medição paralelos - medição diferencial de comprimentos ou ângulos da mais alta precisão - minimização das influências ambientais através da medição diferencial - sensor termicamente estável a longo prazo, sensibilidade à temperatura < 20 nm/K - podem ser utilizados vários reflectores ópticos, por exemplo, refletor esférico, espelho plano - grande invariância de inclinação do refletor de medição - cabeça do sensor em aço inoxidável de série - Distância do feixe: 21 mm - amplas opções de acionamento - interfaces abertas para software OEM em Windows e Linux O nosso interferómetro laser diferencial ultra-estável SP 5000 DI caracteriza-se por uma estabilidade térmica única e é, por isso, preferido para medições de longo prazo em investigação e desenvolvimento, por exemplo, para a análise das propriedades dos materiais. Em contraste com o interferómetro padrão, na versão diferencial o feixe de referência é conduzido para fora da cabeça do sensor e corre paralelamente ao feixe de medição. Este conceito permite que o sensor seja colocado a uma maior distância do local de medição real sem afetar significativamente a resolução ou a estabilidade da medição. A resolução do comprimento deste interferómetro situa-se na gama sub-nanométrica e, devido ao princípio diferencial, pode ser obtida com comprimentos de medição ou de feixe comparáveis, mesmo em condições laboratoriais normais. A gama de medição para a medição do comprimento pode ser de vários metros se forem utilizados reflectores invariantes de inclinação para as medições. O sistema de medição interferométrica tem um design modular e pode assim ser adaptado à respectiva tarefa de medição.

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.