Espectrômetro de fluorescência de raios X EDX 3000PLUS

EDXpara joalheriapara análise de metais preciosos

O Espectrómetro de Fluorescência de Raios X EDX3000 PLUS é o instrumento mais avançado para a análise de metais preciosos. A nova geração do SDD (Silicon Drift Detetor) da Amptek, detetor de janela de berílio com tecnologia digital multicanalEDX3000 PLUS é capaz de analisar com precisão metais preciosos de todos os tamanhos e formas. O ouro depende do peso, e o instrumento depende da precisão. As caraterísticas mais óbvias do EDX 300OPlus são a elevada precisão, a alta resolução e a câmara HD. O funcionamento inteligente com uma tecla simplifica os ensaios de ouro, prata, platina, paládio e outros metais preciosos. Os resultados dos ensaios estão em total conformidade com os requisitos da norma GB/T 18043-2000. Campo de aplicação Planta metalúrgica de metais preciosos Loja de penhores Recuperação de metais preciosos Design humanizado Mais seguro: Dispositivo de segurança integrado de raios X - o obturador interage com o interbloqueio; a caixa está ligada ao terminal de alta tensão para evitar a radiação. Caraterísticas de desempenho A mais avançada tecnologia de deteção - SDD (Silicon Drift Detetor) da Amptek, com resolução ultra-alta a partir de 135eV. Vantagens: grande área de deteção (25 mm²); receção de mais informações por unidade de tempo; melhor taxa de contagem e resolução; maior eficiência de deteção de metais preciosos; melhor SNR e menor limite de deteção. Tecnologia digital multicanal Vantagem: melhora efetivamente a eficiência de saída, realiza uma taxa de contagem ultra elevada, garante uma taxa de contagem efectiva superior a 100K-CPS.