Soquete de teste de burn-in R-Series H-Pin®

Soquete de teste de burn-in - R-Series H-Pin® - Smiths Interconnect
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Características

Especificações
de burn-in

Descrição

A linha de produtos R-Series é uma tomada de fiabilidade de topo aberto utilizada para testes de vida acelerados. Com versões do design open-top de montagem por compressão disponíveis como substitutos para outros produtos antigos no mercado, não há necessidade de comprar novas placas de burn-in. O design open-top permite o carregamento automático e o descarregamento do circuito integrado. A pequena pegada do soquete permite utilizar todos os recursos disponíveis no sistema de burn-in para cada placa de burn-in. Características e vantagens - Design comprovado pela indústria, ferramentas internas, moldagem e maquinagem com montagem 100% automatizada. - Extenso catálogo de componentes, opções configuráveis - O H-Pin oferece um desempenho DC inigualável Opções de características - Compatível com carregamento / descarregamento automático de IC - Materiais de alta temperatura para aplicações acima de 200 °C - Substituição imediata de produtos antigos Informações sobre a série RE - gama de tamanhos de encapsulamento de 5 mm a 9 mm para QFN, LGA e BGA R - gama de tamanhos de encapsulamento de 10 mm a 14 mm para QFN e LGA - gama de tamanhos de encapsulamento de 10 mm a 13 mm para BGA - Substituição imediata para projectos antigos RL - faixa de tamanho de encapsulamento de 16 mm a 19 mm para QFN, LGA e BGA

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26-28 mar 2025 Shanghai (China)

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    * Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.