EddyCus® TF map 2525RM - Mapeamento de Condutividade e Identificação de Defeitos em Filmes Finos
Uma variedade de características dos materiais determina a condutividade dos materiais. Ao lado de sua composição também sua estrutura e sua pureza afetam a condutividade. O EddyCus® TF map 2525RM é um sistema de mapeamento de correntes parasitas dedicado a imagens de alta resolução de condutividade e características correlacionadas expondo propriedades, efeitos e defeitos dos materiais. O sistema pode ser equipado com vários sensores EddyCus para a obtenção de imagens de condutividade em alta resolução ou alta penetração e detecção de defeitos através do uso de sondas diferenciais. O sistema suporta a criação de imagens (Eddy Current C-Scans) da superfície com um passo de medição de 100 µm a 10 mm. O sistema de três eixos é capaz de digitalizar áreas 2D e 2,5D com um tamanho de até 250 x 250 mm / 10 x 10 polegadas. Aplicações típicas abrangem a caracterização da superfície de materiais condutores como SiC-, Grafite-, metal, chapas de liga ou aço ou outros produtos semi-acabados condutores. Além disso, o sistema pode ser usado para testar a integridade elétrica da eletrônica impressa e das camadas.
O teste de corrente parasita permite a quantificação da condutividade do material [IACS ou MS/m] ou resistividade [Ohm m ou Ohm / mm² / m]. A condutividade dos materiais fornece informações sobre as características do material, tais como o tipo de material e a homogeneidade da composição do material. Além da informação direta sobre propriedades elétricas, a condutividade também contém informações relacionadas às suas propriedades térmicas ou às suas propriedades mecânicas e à sua integridade estrutural.
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