Sistema de teste de laboratório S530

para semicondutorescompactode alta tensão

BEAVERTON, Ore., 16 de setembro de 2021 /PRNewswire/ -- A Tektronix, Inc., fornecedora líder mundial de soluções de teste e medição, lançou hoje o software KTE V7.1 para o Sistema de Teste Paramétrico Keithley Série S530 para ajudar a acelerar a fabricação de chips semicondutores justamente quando o mercado mundial mais precisa. As novas opções disponibilizadas pela primeira vez com a versão KTE V7.1 incluem uma nova capacidade de teste paralelo e uma opção única de teste de capacidade de alta tensão para aplicações emergentes de energia e banda larga. O KTE V7.1 melhora os tempos de teste em mais de 10% em relação ao KTE V5.8, o que significa que os engenheiros podem reduzir o tempo de inatividade e tornar os chips mais rápidos. O surgimento do 5G e o crescimento da IOT tem alimentado a demanda global por semicondutores. A escassez global exige não só um aumento da fabricação, mas também uma capacidade mais rápida de testar os novos chips que estão sendo desenvolvidos. O lançamento deste novo sistema de testes pela Tektronix pode ajudar a acelerar a fabricação, diminuindo o tempo de teste e, assim, acelerando a entrega de novos chips ao mercado. "As tecnologias de semicondutores de potência e de banda larga (SiC e GaN) analógicas emergentes de hoje em dia requerem testes paramétricos que maximizam o desempenho das medições, abordam um amplo mix de produtos e minimizam os custos", diz Peter Griffiths, gerente geral de Sistemas e Software da Tektronix. "Os nossos clientes, incluindo os maiores fabricantes de chips do mundo, irão desfrutar das melhorias da KTE V7.1 que permitirão aos engenheiros continuarem a conceber inovações a um ritmo sem precedentes para satisfazer as exigências dos mercados em mudança"