Microscópio SEM MAGNAde metrologiade bancadade alta resolução
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Características
- Tipo
- SEM
- Aplicações técnicas
- de metrologia
- Configuração
- de bancada
- Outras características
- de alta resolução, de elevado contraste
Descrição
• Imagens de alta resolução e alto contraste de materiais de última geração (por exemplo, estruturas catalisadoras, nanotubos, nanopartículas e outras estruturas em nanoescala)
• Excelente plataforma adequada para metrologia MEV/STEM em escala sub-nanométrica
• Configuração rápida do feixe de elétrons – condições ideais de imagem são garantidas pelo In-Flight Beam Tracing™
• Sistema multi-detector TriBE™ e TriSE™ para nanocaracterização de amostras
• Plataforma modular de software intuitiva projetada para operação sem esforço, independentemente do nível de habilidade dos usuários
Catálogos
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