Microscópio FIB/SEM AMBERpara análisespara a pesquisa sobre materiaisde alta precisão
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Características
- Tipo
- FIB/SEM
- Aplicações técnicas
- para análises, para a pesquisa sobre materiais
- Outras características
- de alta precisão, de ultra-alta resolução
Descrição
MEV-FIB nano analítico versátil para expandir seus recursos de pesquisa de materiais
• Preparação de microamostras de alta precisão
• Imagem e nanoanálise MEV-FEG em Ultra-alta Resolução livre de campo
• Campo de visão ampliado e navegação fácil
• Automação de processos em várias áreas
• Tomografia MEV-FIB multimodal
• Interface de usuário de software modular fácil de usar
• Pacotes opcionais atraentes para várias aplicações
Catálogos
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.