Microscópio para bateria Phenom ParticleX

SEMpara análisespara controle da qualidade

Microscópio electrónico de varrimento de secretária para produção e investigação de baterias. Análise avançada de materiais de bateria Fenom Desktop SEM concebido para análise de materiais de bateria Na produção e investigação de baterias, a qualidade dos materiais está a tornar-se crítica. Os pequenos contaminantes no pó NCM, por exemplo, podem ter resultados desastrosos no produto final. Para rastrear eficazmente estes contaminantes, é necessária uma imagem SEM de alta resolução com análise EDS para a química. Quando totalmente automatizada, esta combinação é uma ferramenta poderosa para a inspecção da qualidade do pó. Características-chave do SEM de secretária Phenom ParticleX Battery Classificações de condutância Cada classe de partículas pode ser rotulada com uma condutância das partículas, o que lhe permite classificar na condutância das partículas. Isto permite avaliar o impacto da contaminação com muito mais precisão, uma vez que uma pequena contaminação orgânica não é tão severa como uma contaminação condutora metálica. Diagrama do Ternário Para ver a química global da população de partículas, pode ser gerado um diagrama ternário onde todas as partículas são representadas. Com Ni, Co, e Mn em cada eixo, os anos e tendências gerais podem ser vistos instantaneamente.