Microscópio SEM Phenom ParticleX AM

para análisesde mediçãopara controle da qualidade

Desktop SEM para análise de fabrico de aditivos, capaz de observar amostras grandes até 100 mm x 100 mm. Análise do fabrico de aditivos O Microscópio Electrónico de Desktop Scanning (SEM) Thermo Scientific Phenom ParticleX é um SEM multifuncional de secretária concebido para o fabrico de aditivos, proporcionando pureza em microescala. Está equipado com uma câmara suficientemente grande para analisar amostras até 100 mm x 100 mm. O mecanismo proprietário de ventilação e carregamento assegura o ciclo de ventilação/carga mais rápido do mundo, proporcionando o maior rendimento. Com o Fenom ParticleX AM Desktop SEM, pode assumir o controlo interno dos seus dados: -Monitor características críticas dos pós metálicos -Aumentar os seus processos de fabrico de aditivos em pó e de aditivos em pó -Identificar distribuições granulométricas, morfologia individual das partículas, e partículas estranhas Características do Fenom ParticleX AM Desktop SEM Análise de partículas SEM O Phenom ParticleX AM Desktop SEM apresenta uma câmara com uma fase motorizada precisa e rápida que permite a análise de amostras de até 100 mm x 100 mm. Mesmo com este tamanho de amostra maior, o vaivém de carga proprietário mantém o ciclo de ventilação/carga a um tempo de carga líder da indústria de 60 segundos ou menos, acabando por proporcionar um rendimento mais rápido do que outros sistemas SEM. Testes de fabrico de aditivos O Phenom ParticleX AM Desktop SEM mede vários parâmetros de tamanho e forma, tais como diâmetro mínimo e máximo, perímetro, relação de aspecto, rugosidade, e diâmetro do ferreto. Todos estes podem ser exibidos com valores de 10%, 50%, ou 90% (ou seja, d10, d50, d90).