Microscópio SEM Phenom ParticleX TC

para análisesmultiusosde secretária

Análise de limpeza de componentes com um SEM multiusos de secretária. Desktop SEM para análise de limpeza de componentes O MEV de secretária Thermo Scientific Phenom ParticleX TC é um SEM de secretária polivalente que permite a limpeza técnica em microescala. Caracterização de materiais Uma solução versátil para análises internas de alta qualidade, o Phenom ParticleX Desktop SEM dá-lhe a capacidade de efectuar rapidamente a caracterização, verificação e classificação de materiais, apoiando a sua produção com dados rápidos, precisos e fiáveis. O sistema é simples de operar e rápido de aprender, abrindo a análise de partículas e materiais a um grupo mais vasto de utilizadores. Características principais Limpeza técnica Com a crescente procura de análise de partículas mais pequenas para além do âmbito da microscopia de luz dentro das indústrias (automóvel), o Fenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM permite a microscopia electrónica de varrimento automatizado com espectroscopia de raios X dispersiva de energia (EDS). Esta é uma grande vantagem sobre a microscopia ligeira, uma vez que permite a classificação química das partículas, proporcionando grandes conhecimentos nos seus processos de produção e/ou ambientes. Estão disponíveis relatórios padrão em conformidade com VDA 19 / ISO 16232 ou ISO 4406/4407. Detector de electrões secundário Um detector de electrões secundário (SED) está opcionalmente disponível no SEM de secretária Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness). O SED recolhe electrões de baixa energia da camada superior da superfície da amostra. É, portanto, a escolha perfeita para revelar informações detalhadas da superfície da amostra. A SED pode ser de grande utilidade para aplicações em que a topografia e a morfologia são importantes.