Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo Phenom Pharos G2
didáticoindustrialpara controle da qualidade

microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
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Características

Tipo
eletrônico de varredura por emissão de campo
Aplicações técnicas
didático, industrial, para controle da qualidade, para a pesquisa sobre materiais
Configuração
de mesa
Tipo de detector
de elétrons secundários, de elétrons retroespalhados
Ampliação

2.000.000 unit

Resolução espacial

2 nm, 3 nm, 10 nm

Descrição

Microscópio eletrónico de varrimento com canhão de emissão de campo de mesa para obtenção de imagens de alta qualidade em todas as disciplinas. Microscópio eletrónico de varrimento com pistola de emissão de campo O Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM traz o MEV de emissão de campo para a sua mesa. O Phenom Pharos G2 FEG-SEM supera muitos MEVs de chão em termos de qualidade de imagem, ao mesmo tempo que oferece uma experiência de utilização muito melhor. Para laboratórios académicos e industriais que até agora não consideravam o SEM uma opção realista, o Phenom Pharos G2 FEG-SEM torna o desempenho do FEG acessível graças ao seu formato atrativo e à curta formação necessária. Um carregamento de amostras extremamente rápido significa uma troca rápida de amostras, o que significa maior produtividade. Ao contrário de outros MEVs, que acabam ficando totalmente lotados, o Phenom Pharos G2 FEG-SEM realiza trabalhos de imagem e análise tão rapidamente que funciona bem como uma ferramenta de passeio. O novo Phenom Pharos G2 FEG-SEM expande sua faixa de tensão de aceleração até 1 kV, para melhor acomodar amostras isolantes e sensíveis ao feixe, e até 20 kV, com uma resolução de 2,0 nm que revela os menores detalhes. Fonte de emissão de campo única Único entre os MEVs de mesa, o Phenom Pharos G2 FEG-SEM oferece uma fonte de emissão de campo, que garante alto brilho, imagens nítidas e corrente de feixe estável. Excelente poder de resolução O Phenom Pharos G2 FEG-SEM oferece uma resolução de 2,0 nm a 20 kV. Este desempenho mostra a forma de nanopartículas, imperfeições em revestimentos ou outras características que não seriam detectadas por SEMs de tungsténio ou outros SEMs de mesa.

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VÍDEO

Catálogos

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.