Microscópio eletrônico de varredura com feixe de íon focalizado Helios 5 DualBeam

para a pesquisa sobre materiais3Dde alta resolução

Preparação de amostras para tomografia por TEM e STEM ou tomografia por sonda atómica. Fácil de usar com automatização avançada. Capaz de caracterização 3D de subsuperfície de alta qualidade. Preparação de amostras FIB O novo Thermo Scientific Helios 5 DualBeam baseia-se nas capacidades de imagem e análise de alto desempenho da família Helios DualBeam, líder da indústria. Foi cuidadosamente concebido para satisfazer as necessidades dos investigadores e engenheiros da ciência dos materiais para uma vasta gama de casos de utilização de microscopia electrónica de varrimento de feixes de iões focalizados (FIB-SEM) - mesmo nas amostras mais difíceis. O Helios 5 DualBeam redefine o padrão em imagens de alta resolução com alto contraste de materiais; preparação de amostras rápidas, fáceis e precisas de alta qualidade para a tomografia (S)TEM e a tomografia de sonda atómica (APT), bem como a caracterização de alta qualidade de subsuperfície e 3D. Com base nas capacidades comprovadas da família Helios DualBeam, avanços adicionais ao novo Helios 5 DualBeam foram concebidos para assegurar que o sistema é optimizado para uma variedade de fluxos de trabalho manuais ou automatizados. Essas melhorias incluem: -Uma maior facilidade de utilização: O Helios 5 DualBeam é o DualBeam mais acessível para utilizadores de todos os níveis de experiência. A formação dos operadores pode ser reduzida de meses para dias e a concepção do sistema está a ajudar todos os operadores a alcançar resultados consistentes e repetíveis numa grande variedade de aplicações avançadas. -Produtividade acrescida: Capacidades avançadas de automatização, aumento da robustez e melhorias de estabilidade no software Helios 5 DualBeam e Thermo Scientific AutoTEM 5 podem aumentar significativamente o rendimento da preparação de amostras, permitindo uma operação desacompanhada e mesmo durante a noite.