Microscópio eletrônico de varredura com feixe de íon focalizado Scios 2

para análisespara pesquisade metrologia

Microscópio electrónico por varrimento de feixe de iões focalizado para ultra-alta resolução, preparação de amostras de alta qualidade e caracterização 3D. O Thermo Scientific Scios 2 DualBeam é um sistema de microscopia electrónica de varrimento de feixe de iões focalizado analítico de ultra-alta resolução (FIB-SEM) que proporciona uma excelente preparação de amostras e desempenho de caracterização 3D para uma vasta gama de amostras, incluindo materiais magnéticos e não-condutores. Com características inovadoras concebidas para aumentar a produção, precisão e facilidade de utilização, o Scios 2 DualBeam é uma solução ideal para satisfazer as necessidades dos cientistas e engenheiros em investigação e análise avançada em ambientes de investigação académica, governamental e industrial. Caracterização de subsuperfície A caracterização subsuperficial ou tridimensional é muitas vezes necessária para compreender melhor a estrutura e as propriedades de uma amostra. O software Scios 2 DualBeam, com o opcional Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4), permite a aquisição de conjuntos de dados 3D multimodais de alta qualidade e totalmente automatizada, incluindo imagens de retrocatação de electrões (BSE) para máximo contraste de materiais, espectroscopia dispersiva de energia (EDS) para informação composicional, e difração de retrocatação de electrões (EBSD) para informação microestrutural e cristalográfica. Combinado com o software Thermo Scientific Avizo, o Scios 2 DualBeam fornece uma solução de fluxo de trabalho única para caracterização e análise 3D avançada e de alta resolução à escala nanométrica. Imagem de electrões retrodifundidos e electrões secundários A inovadora coluna de electrões NICol fornece a base das capacidades de imagem e detecção de alta resolução do sistema.