Microscópio eletrônico de transmissão (MET) Spectra 200
para controle da qualidadepara a pesquisa sobre materiaispara semicondutor

microscópio eletrônico de transmissão (MET)
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Características

Tipo
eletrônico de transmissão (MET)
Aplicações técnicas
para controle da qualidade, para a pesquisa sobre materiais, para semicondutor
Fonte de elétrons
de emissão de campo frio
Lente
com corretor de aberração
Outras características
de alta resolução
Resolução espacial

0,06 nm, 0,11 nm, 0,16 nm

Descrição

Microscópio TEM e STEM de alto rendimento para todas as aplicações da ciência dos materiais. Para que os cientistas possam avançar na compreensão de amostras complexas e desenvolver materiais inovadores, devem ter acesso a instrumentos robustos e precisos capazes de correlacionar forma e função, bem como de resolver espaço, tempo e frequência. Thermo Fisher Scientific apresenta o Thermo Scientific Spectra 200 (S)TEM, o microscópio electrónico de alto rendimento, corrigido por aberrações, de transmissão (scanning) para todas as aplicações da ciência dos materiais. Spectra 200 Scanning Transmission Microscope Vantagens do Microscópio Electrónico de Transmissão Todos os Spectra 200 (S)TEM são entregues em novas plataformas concebidas para oferecer um nível sem precedentes de estabilidade mecânica e a mais alta qualidade de imagem, através de isolamento passivo e (opcional) activo contra vibrações. O sistema está alojado num recinto totalmente redesenhado com um visor incorporado no ecrã para o conveniente carregamento e remoção de espécimes. Pela primeira vez, pode ser oferecida total modularidade e possibilidade de actualização entre configurações não corrigidas e únicas com alturas variáveis, permitindo a máxima flexibilidade para diferentes configurações de salas. O Spectra 200 (S)TEM pode ser alimentado por uma nova pistola de emissão de campo frio (X-CFEG). O X-CFEG tem um brilho extremamente elevado (>>1,0 x 108 A/m2/Sr/V*), baixa dispersão de energia, e pode ser operado de 30 - 200 kV. Isto fornece imagens STEM de alta resolução com altas correntes de sonda para análise STEM de alta capacidade e rápida aquisição. Com a poderosa combinação de X-CFEG e S-CORR corrector de aberrações de sonda, a imagem STEM sub-Angstrom com mais de 1000 pA de corrente de sonda pode ser rotineiramente obtida.

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