Espectrômetro de fotoelétrons excitados por raios X K-Alpha XPS

para ópticade aquisição de dadosalpha

Espectrómetro fotoeléctrico de raios X para análise de superfície de alto desempenho. Espectrómetro Fotoeléctrico de Raios K-Alpha X O sistema Thermo Scientific K-Alpha X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS) traz uma nova abordagem à análise de superfície. Centrado na obtenção de resultados de alta qualidade utilizando um fluxo de trabalho simplificado, o Sistema K-Alpha XPS torna a operação XPS simples e intuitiva, sem qualquer sacrifício em termos de desempenho ou capacidades. Desempenho de ponta, custo de propriedade reduzido, maior facilidade de utilização e elevado rendimento da amostra tornam o Sistema K-Alpha XPS ideal para um ambiente multiutilizador. O Sistema K-Alpha XPS dá a mais investigadores em todo o mundo acesso a análises de superfície. Características do Espectrómetro Fotoelectrónico de Raios K-Alpha X Fonte de raios X de alto desempenho O monocromador de raios X permite a selecção da área de análise de 50 µm a 400 µm em passos de 5 µm, adequando-a à característica de interesse para maximizar o sinal. Óptica electrónica optimizada As lentes electrónicas de alta eficiência, o analisador hemisférico e o detector permitem uma excelente detectabilidade e uma rápida aquisição de dados. Visualização de amostras Coloque as características das amostras em foco com o sistema patenteado de visualização óptica K-Alpha XPS System e XPS SnapMap, que o ajuda a identificar rapidamente as áreas de interesse. Análise do isolador A fonte de inundação de feixe duplo patenteada associa feixes de iões de baixa energia com electrões de muito baixa energia (menos de 1 eV) para evitar a carga da amostra durante a análise, o que elimina a necessidade, na maioria dos casos, de referência de carga. Perfil de profundidade Ir para além da superfície com a fonte de iões EX06. A optimização automatizada da fonte e o manuseamento do gás asseguram um excelente desempenho e reprodutibilidade experimental.