Sistema de feixe de íons focalizado

Fresagem por feixe iónico largo para polimento de superfícies e secções transversais de amostras para caraterização e imagiologia SEM A observação e caraterização de alta qualidade de materiais requerem frequentemente uma superfície livre de artefactos, o que pode ser difícil de conseguir com técnicas de polimento tradicionais, como o lixamento ou o polimento mecânico. O sistema de feixe de iões largo CleanMill da Thermo Scientific é a solução completa de polimento por feixe de iões para aplicações de SEM na ciência dos materiais, permitindo a obtenção de imagens e análises óptimas de materiais em que é necessária uma superfície imaculada, incluindo materiais sensíveis ao feixe e ao ar. O sistema CleanMill é totalmente compatível com o sistema de transferência de amostras CleanConnect da Thermo Scientific, facilitando a transferência rápida de amostras entre instrumentos e minimizando o manuseamento de amostras. Fonte de iões de alta energia A fonte de iões de ultra-alta energia possui uma tensão de aceleração máxima de 16 kV para fresar e polir rapidamente as superfícies das amostras. Polimento ultra-fino de superfícies O sistema CleanMill pode ser configurado com uma pistola de iões de baixa energia opcional para o polimento final das superfícies das amostras. Ampla tensão de aceleração O sistema fornece uma energia de iões que varia entre 2 kV e 16 kV e possui ópticas dedicadas para polimento de ultra-baixa tensão de 100 V a 2 kV. Compatibilidade com o sistema CleanConnect Transfira com segurança amostras do sistema CleanMill para a câmara do microscópio utilizando o fluxo de trabalho Thermo Scientific IGST (transferência de amostras de gás inerte) para observar materiais nos seus estados nativos. Monitorização em tempo real O ecrã tátil integrado e a câmara de alta resolução ajudam-no a acompanhar o processo de fresagem por feixe de iões largos.