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Sistema de medição de dimensões críticas MT2010VIS/IR
mediante câmerainfravermelhoautomático

Sistema de medição de dimensões críticas - MT2010VIS/IR - TZTEK Technology Co.,ltd - mediante câmera / infravermelho / automático
Sistema de medição de dimensões críticas - MT2010VIS/IR - TZTEK Technology Co.,ltd - mediante câmera / infravermelho / automático
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Características

Grandeza física
de dimensões críticas
Tecnologia
mediante câmera, infravermelho
Modo de funcionamento
automático
Produto medido
para semicondutor

Descrição

O sistema de infravermelhos da TZTEK ocupa uma posição de liderança a nível mundial. O sistema combina uma câmara de infravermelhos de alto desempenho com uma ótica de infravermelhos optimizada para gerar imagens com excelente resolução e contraste. principais características -Medição automática -Combinação de luz visível e infravermelha nos modos refletido e transmitido -SECS/GEM -Baixo custo de manutenção, estável e fiável

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Tradução automática  (ver texto original em inglês)

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.