Espectrômetro EDXRF Genius IF

para a indústria metalúrgicaeconômicode bancada

Espectrômetro EDXRF de Bancada com Alvos Secundários O espectrômetro EDXRF Genius IF (Secondary Targets) da Xenemetrix oferece uma solução econômica no mercado atual de análise elementar. O analisador fornece uma determinação qualitativa e quantitativa não destrutiva de Carbono(6) até Fermium(100), fornecendo limites de detecção desde subppm até altas concentrações percentuais de peso. O Genius IF tem componentes poderosos, incluindo: Um sistema informático totalmente integrado Um Detector de Deriva de Slicon de alta resolução Um poderoso tubo de raios X com tamanhos de pontos variáveis, projetado para acomodar amostras de vários tamanhos Oito alvos secundários e oito filtros tubulares personalizáveis para a determinação rápida e precisa de traços e elementos menores O Genius IF também pode operar no modo clássico de excitação directa. Detector de desvio de silício (SDD): o Detector de Deriva de Silício permite altas taxas de contagem, melhor resolução, até 125eV e tempo de resposta rápido, a fim de minimizar o tempo de parada operacional. SDD LE- Ultra - Janela de detecção ultrafina proporciona um desempenho superior para análise de elementos Z baixos. Alvos Secundários: O Genius IF tem uma geometria patenteada única que combina oito alvos secundários, com oito filtros tubulares personalizáveis utilizados em modo de excitação directa, para permitir uma excitação óptima de todos os elementos que podem ser detectados no EDXRF. A técnica patenteada WAG (Wide Angle Geometry) de alvo secundário fornece os melhores resultados para a análise de grandes, pequenos e elementos vestigiais.