Espectrômetros EDXRF de Laboratório com Alvos Secundários
Os espectrômetros de Fluorescência de Raios-X Dispersiva de Energia (EDXRF) de laboratório da Xenemetrix oferecem a melhor solução não destrutiva em aplicações de análise elementar.
O Detector de Deriva de Silício (SDD) proporciona simultaneamente menor ruído eletrônico e uma maior taxa de contagem, o que se traduz em maior resolução de energia e resultados mais rápidos em comparação com o detector Si-PIN.
Oito alvos secundários no modelo Nova oferecem a máxima sensibilidade para uma quantificação rápida e precisa, mesmo em matrizes complexas, como amostras de liga, plástico e geológicas. Os alvos são totalmente personalizáveis para atingir os limites de detecção sub-ppm numa grande variedade de elementos.
Os versáteis espectrômetros de laboratório podem analisar líquidos, sólidos, polpas, pós, pellets e filtros de ar, enquanto a câmara analítica pode acomodar amostras de diferentes formas e tamanhos.
O desenho integral do auto-amplificador de 10 posições permite uma intervenção humana mínima ao mesmo tempo que permite o carregamento automático e a operação sem vigilância.
Este espectrômetro rápido, preciso e fácil de usar está equipado com hardware robusto e poderoso software analítico para atingir baixos limites de detecção.
A resolução de aquisição multicanal proporciona uma relação superior entre o pico e o fundo para uma melhor resposta do detector.
Análise elementar não destrutiva C(6)-Fm(100) de concentrações subppm a 100%.
Até 300W de potência do tubo combinado com uma tecnologia patenteada WAG ® (Wide Angle Geometry) criam um instrumento poderoso que qualquer laboratório só pode desejar.
Fácil de operar graças ao pacote de software proprietário Analytix.
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