Microscópio óptico ZEISS Axio Imager 2
para pesquisaindustrialpara materiais

Microscópio óptico - ZEISS Axio Imager 2 - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - para pesquisa / industrial / para materiais
Microscópio óptico - ZEISS Axio Imager 2 - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - para pesquisa / industrial / para materiais
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Características

Tipo
óptico
Aplicações técnicas
para pesquisa, industrial, para materiais
Técnica
confocal de varredura a laser
Outras características
automático, modular, motorizado
Ampliação

MÍN: 1 unit

MÁX: 100 unit

Peso

18 kg, 40 kg
(39,7 lb, 88,2 lb)

Comprimento

721 mm
(28,4 in)

Largura

300 mm, 390 mm
(11,8 in, 15,4 in)

Altura

505 mm
(19,9 in)

Descrição

Sistema de Microscópio Aberto para Análise Automatizada de Materiais Quando realiza investigação avançada de materiais, introduza a facilidade de utilização no seu fluxo de trabalho de microscopia ótica. Beneficie-se de resultados precisos e reprodutíveis usando o ZEISS Axio Imager 2 para materiais. Escolha o sistema adaptado às suas aplicações. Expanda seu instrumento com soluções dedicadas para, por exemplo, análise de partículas, microscopia confocal ou correlativa. Resultados reproduzíveis Design modular Elevado desempenho ótico Resultados reprodutíveis Desfrute de condições de trabalho sem vibrações A estabilidade é essencial se quiser obter bons resultados. Aprecie as condições estáveis de aquisição de imagens do Axio Imager 2, especialmente quando trabalha com grandes ampliações ou efectua estudos dependentes do tempo. Graças à motorização do Axio Imager 2, obtém resultados rápidos e reprodutíveis, trabalhando sempre em condições constantes. Design modular Obtenha maior flexibilidade Quer seja na investigação académica ou industrial, a microscopia de materiais enfrenta vários desafios. Com o Axio Imager 2, será capaz de enfrentar e vencer estes desafios. Anexe componentes específicos da aplicação e efectue, por exemplo, análises de partículas. Investigue inclusões não metálicas (NMI), cristais líquidos ou MEMs baseados em semicondutores. Expanda o seu instrumento com soluções dedicadas para microscopia confocal ou correlativa.

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