Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo ZEISS Sigma​

para análisespara inspeçãopara materiais

A família ZEISS Sigma combina a tecnologia de microscópio eletrónico de varrimento por emissão de campo (FE-SEM) com uma excelente experiência de utilização. Estruture as suas rotinas de imagem e análise e aumente a produtividade. Estude novos materiais, partículas para inspeção de qualidade ou espécimes biológicos ou geológicos. Não faça concessões na geração de imagens de alta resolução - vá para baixas tensões e beneficie-se da resolução e do contraste aprimorados a 1 kV ou menos. Execute microscopia analítica avançada utilizando a melhor geometria EDS da sua classe e obtenha dados analíticos ao dobro da velocidade e com maior precisão Com a família Sigma, está a entrar no mundo da nano-análise de alta qualidade. A Sigma 360 é a escolha das principais instalações de imagiologia - um FE-SEM intuitivo para imagiologia e análise. O Sigma 560 utiliza a melhor geometria EDS da sua classe para proporcionar uma análise de elevado rendimento e permitir experiências in situ automatizadas. A escolha da instalação principal. Aquisição intuitiva. Seja guiado por especialistas desde a configuração até os resultados baseados em IA. Descubra um fluxo de trabalho de geração de imagens intuitivo. Veja a diferença a 1 kV e abaixo. Obtenha uma resolução melhorada e um contraste optimizado. Realize imagens de VP nos extremos para obter excelentes resultados em não condutores. Análise de alto rendimento. Experimentos automatizados in situ. Análise eficiente de amostras do mundo real: Análises baseadas em SEM com velocidade e versatilidade. Automatize as suas experiências in situ: Um laboratório totalmente integrado para testes sem supervisão. Imagear amostras difíceis abaixo de 1 kV: Recolha informações abrangentes sobre a amostra.