Microscópio de raios X ZEISS XRADIA Versa
para análisespara materiais3D

Microscópio de raios X - ZEISS XRADIA Versa - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - para análises / para materiais / 3D
Microscópio de raios X - ZEISS XRADIA Versa - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - para análises / para materiais / 3D
Microscópio de raios X - ZEISS XRADIA Versa - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - para análises / para materiais / 3D - imagem - 2
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Características

Tipo
de raios X
Aplicações técnicas
para análises, para materiais
Técnica
3D
Outras características
de alta resolução

Descrição

Experimente o poder dos microscópios de raios X Versa da ZEISS, a escolha comprovada de investigadores e cientistas de todo o mundo. Os Versa XRM apresentam interfaces de utilizador intuitivas, assegurando que cada utilizador pode maximizar a sua produtividade e obter resultados excepcionais. Privilegiando a resolução real em ambientes práticos, os Versa XRM oferecem-lhe a capacidade de observar até os mais pequenos detalhes com uma clareza sem paralelo. Reconhecido pela sua estabilidade e precisão, o compromisso da ZEISS com a qualidade é evidente em todos os aspectos do Versa XRM. Confie que o seu investimento resistirá ao teste do tempo, satisfazendo as suas necessidades nos próximos anos. O ZEISS VersaXRM 730 oferece uma gama de opções mais ampla do que qualquer outro XRM avançado no mercado. O sistema proporciona um desempenho de resolução revolucionário, eleva a acessibilidade a um novo patamar com uma experiência de utilizador intuitiva e acelera a produtividade com um rendimento e um tempo de obtenção de resultados mais rápidos. resolução espacial de 450 nm com desempenho Orientação e controlo centrados no utilizador ZEN navx Tomografias de um minuto e 3D de ponta a ponta O ZEISS VersaXRM 615 amplia os limites da sua exploração com tecnologia inovadora de fonte e ótica. O fluxo mais alto e o reconhecimento baseado em IA proporcionam tomografias mais rápidas com resolução e contraste líderes do setor. resolução espacial de 500 nm com RaaD fonte selada de ativação rápida de 25 W Modo FAST ativado por FPX O ZEISS Xradia 515 Versa oferece uma resolução líder na sua classe numa plataforma robusta, quebrando a barreira de um mícron para imagens 3D e tornando a investigação de calibre síncrotron ainda mais prática para centros de imagiologia de média dimensão e laboratórios industriais. resolução espacial de 500 nanómetros voxel mínimo alcançável de 40 nm

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VÍDEO

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.