Com o ZEISS METROTOM 1500, obtém tecnologia avançada de TC - detecta falhas de forma fiável, capturando e medindo defeitos sob a superfície. O que torna esta tomografia diferente: ela fornece imagens rápidas e de alta resolução para peças pequenas e grandes - e tudo o que estiver entre elas.
Digitalização de alta velocidade
Qualidade de imagem de TC detalhada
Metrologia exacta (VDI/VDE 2630 1.3)
Certificação DAkkS opcional
Pegada compacta
Vantagens
Melhor qualidade de imagem
Alta resolução e precisão rastreável
O ZEISS METROTOM 1500 apresenta uma excelente qualidade de imagem que retrata claramente até mesmo pequenos defeitos. O software AMMAR, BHC e o módulo de hardware ZEISS scatterControl fazem a diferença para uma qualidade incontestável. Além disso, o CT é especificado de acordo com a diretriz VDI/VDE 2630 para precisão rastreável
Graças ao alto nível de especialização em metrologia da ZEISS, que também é usado na tecnologia de TC, pode confiar numa elevada precisão de medição. Um MPE(SD) de 4,5 + L/50 μm de acordo com a VDI/VDE 2630 Folha 1.3 é garantido em todo o campo de visão - para resultados de medição em que pode confiar.
Versatilidade do sistema
Adequado para uma grande variedade de peças e aplicações
O ZEISS METROTOM 1500 digitaliza peças pequenas em altíssima resolução e peças de até 615 mm de diâmetro e 800 mm de altura como uma reconstrução completa. Isto é conseguido através da expansão do campo de visão tanto horizontal como verticalmente.
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